O artigo “Accuracy evaluation of an X-ray microtomography system”, de autoria do professor Jaquiel Salvi Fernandes, Doutor em FA�sica Nuclear Aplicada, foi publicado na revista cientA�fica internacional Micron.
A pesquisa, realizada em parceria com os professores Carlos Roberto Apolloni e Celso Peres Fernandes, apresenta uma avaliaA�A?o da precisA?o de um sistema de microtomografia de raios X em suas anA?lises de dados.
a�?A� uma grande satisfaA�A?o quando uma pesquisa cientA�fica A� aceita para publicaA�A?o em uma revista internacional renomada como a Micron. A tA�cnica aplicada A� relativamente nova. Dessa forma, a verificaA�A?o de tal precisA?o A� de fundamental importA?ncia para que seja aceita pela comunidade cientA�fica e pela indA?stria, como uma excelente ferramenta na anA?lise da estrutura interna de matA�rias e de seus parA?metros microestruturaisa�? destaca Jaquiel.
Esse trabalho foi realizado em parceira com a Universidade Estadual de Londrina (UEL), o Conselho Nacional de Desenvolvimento CientA�fico e TecnolA?gico (CNPq) e a CoordenaA�A?o de AperfeiA�oamento de Pessoal de NA�vel Superior (Capes).
Merece destaque tambA�m a publicaA�A?o do artigo “Isolamento TA�rmico de ResidA?ncias AtravA�s da ReutilizaA�A?o de Embalagens Tetra Pak”, um dos textosA�mais acessadas, nos A?ltimos dois anos, na Revista Brasileira de ExtensA?o. Esse projeto foi desenvolvido tambA�m pelo professor Jaquiel Salvi Fernandes e contou com a participaA�A?o das discentes egressas Ramona Jaqueline Danielewicz e Joice Secco.
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